Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Experimental evidence on removing copper and light-induced degradation from silicon by negative charge
Finland.
Department of Micro- and Nanosciences, Aalto University, Finland.ORCID-id: 0000-0002-4569-5788
Germany.
Germany.
Vise andre og tillknytning
2014 (engelsk)Inngår i: Applied Physics Letters, ISSN 0003-6951, E-ISSN 1077-3118, Vol. 105, nr 18, artikkel-id 182108Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
sted, utgiver, år, opplag, sider
American Institute of Physics (AIP), 2014. Vol. 105, nr 18, artikkel-id 182108
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kau:diva-37260DOI: 10.1063/1.4901533ISI: 000345000000042OAI: oai:DiVA.org:kau-37260DiVA, id: diva2:844086
Tilgjengelig fra: 2015-08-03 Laget: 2015-08-03 Sist oppdatert: 2017-12-04bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Andre lenker

Forlagets fullteksthttp://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/105/18/10.1063/1.4901533

Personposter BETA

Lindroos, Jeanette

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Lindroos, Jeanette
I samme tidsskrift
Applied Physics Letters

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetric

doi
urn-nbn
Totalt: 50 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf