Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Iterative feedback tuning in a scanning probe microscope
Karlstads universitet, Fakulteten för teknik- och naturvetenskap, Avdelningen för fysik och elektroteknik. (Materialfysik)ORCID-id: 0000-0003-1711-5595
2008 (Engelska)Patent (Övrig (populärvetenskap, debatt, mm))
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Google Patents , 2008.
Nationell ämneskategori
Fysik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kau:diva-15967OAI: oai:DiVA.org:kau-15967DiVA, id: diva2:573163
Patent
US US 8250667 B2 (2008-12-01)
Anmärkning

US Patent App. 12/744,587 , US 8250667 B2

Tillgänglig från: 2012-11-29 Skapad: 2012-11-29 Senast uppdaterad: 2014-10-28Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Svensson, Krister

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Svensson, Krister
Av organisationen
Avdelningen för fysik och elektroteknik
Fysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 77 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf