Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Iterative Feedback Tuning in a Scanning Probe Microscope
Karlstads universitet, Fakulteten för teknik- och naturvetenskap, Avdelningen för fysik och elektroteknik. (Materialfysik)ORCID-id: 0000-0003-1711-5595
2009 (Engelska)Patent (Övrig (populärvetenskap, debatt, mm))
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2009.
Nationell ämneskategori
Fysik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kau:diva-15989OAI: oai:DiVA.org:kau-15989DiVA, id: diva2:573157
Patent
WIPO 2009/070119 (2009-06-04)
Anmärkning

WO Patent WO/2009/070,119

Tillgänglig från: 2012-11-29 Skapad: 2012-11-29 Senast uppdaterad: 2014-10-28Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

http://patent.ipexl.com/WO/2009ZZSLASHZZ070119.html

Personposter BETA

Svensson, Krister

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Svensson, Krister
Av organisationen
Avdelningen för fysik och elektroteknik
Fysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 124 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf