Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Characterisation of vertical phase separation in polymer: fullerene blend films for photovoltaics by dSIMS and NEXAFS
Karlstads universitet, Fakulteten för teknik- och naturvetenskap, Avdelningen för fysik och elektroteknik. Karlstads universitet, Fakulteten för teknik- och naturvetenskap, Materialvetenskap. (Materialfysik)
Karlstads universitet, Fakulteten för teknik- och naturvetenskap, Avdelningen för fysik och elektroteknik. (Materialvetenskap)
M. Smoluchowski Insitute of Physics, Jagiellonian University, Reymonta 4, Krakow 30–059, Poland.
Faculty of Physics and Applied Computer Science, AGH-University of Science and Technology, Al. Mickiewicza 30, Krakow 30–059, Poland.
Visa övriga samt affilieringar
2011 (Engelska)Ingår i: E-MRS 2011 Spring Meeting: Bilateral Energy Conference, Malden, MA: John Wiley & Sons, 2011, s. 62-63Konferensbidrag, Muntlig presentation med publicerat abstract (Refereegranskat)
Abstract [en]

Morphological control and characterization of blend films is key in the development of viable polymer solar cells. Spontaneous formation of vertical compositional gradients during solution processing has been shown for polyfluorene:PCBM blends and rationalized with thermodynamic and kinetic models of nucleation and spinodal decomposition.[1, 2] The extent of vertical stratification is affected by polymer side-chain modification aimed at controlling polymer:fullerene miscibility.[3] Here we present high-resolution film morphology results for several polymer:fullerene systems as obtained from near-edge X-ray fine structure spectroscopy (NEXAFS) in partial and in total electron yield modes. Blend films were found to be polymer- enriched at the surface. Dynamic secondary ion mass spectrometry (dSIMS) and NEXAFS give compositional information at different depths, resulting in a more complete picture of the film morphology.

 

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Malden, MA: John Wiley & Sons, 2011. s. 62-63
Nationell ämneskategori
Den kondenserade materiens fysik
Forskningsämne
Fysik; Materialvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kau:diva-15768OAI: oai:DiVA.org:kau-15768DiVA, id: diva2:571788
Konferens
E-MRS 2011 Spring Meeting, Bilateral Energy Conference, Acropolis Congress Center, Nice, France, May 9-13, 2011
Forskningsfinansiär
Vetenskapsrådet, 2010-4155Tillgänglig från: 2012-11-23 Skapad: 2012-11-23 Senast uppdaterad: 2019-05-20Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

http://www.emrs-strasbourg.com/files/USB%2011/symposium_n.pdf

Personposter BETA

Anselmo, Ana SofiaDzwilewski, Andrzejvan Stam, JanSvensson, KristerMoons, Ellen

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Anselmo, Ana SofiaDzwilewski, Andrzejvan Stam, JanSvensson, KristerMoons, Ellen
Av organisationen
Avdelningen för fysik och elektroteknikMaterialvetenskapAvdelningen för kemi och biomedicinsk vetenskap
Den kondenserade materiens fysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 376 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf