Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Experimental evidence on removing copper and light-induced degradation from silicon by negative charge
Finland.
Department of Micro- and Nanosciences, Aalto University, Finland.ORCID-id: 0000-0002-4569-5788
Germany.
Germany.
Visa övriga samt affilieringar
2014 (Engelska)Ingår i: Applied Physics Letters, ISSN 0003-6951, E-ISSN 1077-3118, Vol. 105, nr 18, artikel-id 182108Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
American Institute of Physics (AIP), 2014. Vol. 105, nr 18, artikel-id 182108
Nationell ämneskategori
Den kondenserade materiens fysik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kau:diva-37260DOI: 10.1063/1.4901533ISI: 000345000000042OAI: oai:DiVA.org:kau-37260DiVA, id: diva2:844086
Tillgänglig från: 2015-08-03 Skapad: 2015-08-03 Senast uppdaterad: 2017-12-04Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltexthttp://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/105/18/10.1063/1.4901533

Personposter BETA

Lindroos, Jeanette

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Lindroos, Jeanette
I samma tidskrift
Applied Physics Letters
Den kondenserade materiens fysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 50 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf